股票代码:301095
News Center
获取91香蕉国线观免费看永久最新资讯 了解行业最新动态

Semitronix推出精确的前端电容测试方案

发布日期 : 2018-04-17

Semitronix推出精确的前端电容测试方案——Addressable QVCM电容测试技术,其测量前端电容的精度可以达到1fF,同时能够精确测试并绘制多个电容测试项的C-V曲线。该技术完善了Semitronix集成电路工艺成套监测方案的生态布局,使Semitronix Addressable技术能够满足IC工艺制造中的全部监控需求,是Semitronix创新发展历程中的一个重要里程碑。

 

行业痛点:

电容是集成电路中的关键器件,同时寄生电容对芯片性能(功耗与速度) 具有决定性的影响。目前行业内通常采用的LCR meter电容测试方法,其精度在几十飞法(fF)以上,无法满足晶体管级的电容测试;CBCM方法虽然可以精确地测量后端电容,但是因为前端存在各种leakage(如gate leakage…)而使CBCM方法无法精确测量前端电容。

 

技术简介:

Semitronix针对前端电容的精确测试这一难点投入大量的时间与资源,首次将QVCM电容测试方法与可寻址测试芯片技术有机结合,所研发出的Addressable QVCM电容测试技术克服了传统CBCM不能消除电荷注入和前端漏电效应的影响,黄色91香蕉视频了当前电容测试芯片占用面积过大、电容测试技术精度不足、寄生电容大、不同偏置电压下前端电容不能测试、一个DUT仅能测试一个电容项等技术瓶颈,其测试精度能够达到1fF,同时能够测量多个电容测试项的C-V曲线。

 

技术指标:

•  对于<100fF的电容实现电容测试精度达到1fF/<1%;

•  精确绘制出不同偏置电压下的C-V曲线;

•  实现Cgg/Cgb/Cgsd@VB三个测试项在同一测试电路中覆盖;

•  平均每个DUT仅占用0.25个Pad。

 

目前Addressable QVCM电容测试黄色91香蕉视频方案已经在多个国内外知名半导体91香蕉视频免费下载。 成功实现了产业化应用。客户可以选择性地结合Semitronix的其他电性测试方案,使测试出的测试结果能够有针对性地反映芯片存在的各方面问题,依据这些问题,工程师可以对设计或工艺环境做出相应的改进,对于芯片良品率和性能提升具有非常重要的现实意义。

1532682725.jpg

 

1532680231.jpg

 

1532676239.jpg

 

1532682004.jpg